Agilent/安捷倫4339B毫歐表高電阻測試儀

Agilent/安捷倫4339B毫歐表高電阻測試儀

描述,Agilent/安捷倫4339B高電(dian)阻測試(shi)儀,Agilent4339B安捷倫HP4339B毫歐表高阻計高阻測試(shi)儀

Agilent 4339B高電(dian)阻(zu)(zu)測試儀(yi)規格 JIANG,惠普4339B毫歐表|高阻(zu)(zu)計|高阻(zu)(zu)測試儀(yi)

測量(liang)參數(shu)：R（直(zhi)流電(dian)阻(zu)），I（直(zhi)流電(dian)流），ps（表面電(dian)阻(zu)率(lv)），pv（體電(dian)阻(zu)率(lv)）數(shu)學功能(neng)：偏差(cha)(cha)和百(bai)分偏差(cha)(cha)

顯(xian)示數字：3，4或(huo)5位（可選(xuan)擇）測試(shi)電壓：0.1～1000Vdc0.1～200Vdc時，以0.1V步進

0.1～1000Vdc時(shi)，以(yi)1V步進(jin)電壓(ya)精度(du)：≤200V時(shi)為0.16％+100mV＞200V時(shi)為0.16％+500mV

電流(liu)：≤100V時(shi)為10mA；≤250V時(shi)為5mA≤500V時(shi)為2mA；≤1000V時(shi)為1mA

電流相容性調定：0.5mA,1mA,2mA,5mA,10mA輸出電阻(zu)：1KΩ±10％

4339B高電(dian)阻表是安捷倫進行精密高阻抗測量(liang)的先進的測試工具。測試序列編程功能提供自動測量(liang)過程(充電(dian)-測量(liang)-放電(dian))。

現已(yi)提供多種元(yuan)件測(ce)(ce)試夾(jia)具(ju)和(he)材料(liao)測(ce)(ce)試。美國安(an)捷(jie)倫(Agilent)4339B高電阻測(ce)(ce)試儀

安捷倫4339B高(gao)電阻測(ce)試儀是進行精密(mi)高(gao)阻抗測(ce)量的(de)先進的(de)測(ce)試工具。

測量(liang)(liang)范圍(wei)(wei)1*103Ω至(zhi) 1.6x1016Ω,基本精度(du)為0.6%,在這樣寬廣的測量(liang)(liang)范圍(wei)(wei)可對(dui)電(dian)(dian)容器(qi)、繼(ji)電(dian)(dian)器(qi)、開(kai)關(guan)、連接器(qi)、材料、

電(dian)纜和印制電(dian)路板進行精確的(de)高阻測(ce)(ce)量。具(ju)有(you)對接地被(bei)測(ce)(ce)件(jian)的(de)測(ce)(ce)量能(neng)力,能(neng)檢測(ce)(ce)接地時的(de)電(dian)纜和變壓器。

測試序(xu)列(lie)編程(cheng)功能提供自動測量過程(cheng)(充電-測量-放電),控制一系列(lie)的(de)電阻測量。

Agilent 4338B低(di)電(dian)阻(zu)測試儀(yi)主(zhu)要技術指(zhi)標:測量參數(shu):R(直流(liu)電(dian)阻(zu))、I(直流(liu)電(dian)流(liu))、ps(表面電(dian)阻(zu)率),pv(體電(dian)阻(zu)率)。

測(ce)量(liang)范圍:電阻1*103Ω至 1.6x1016Ω;電流60fA至100uA。基本測(ce)量(liang)精度(du)(du):0.6%。測(ce)量(liang)速度(du)(du):最快10 ms測(ce)量(liang)時間。